Notre expertise au service de vos projets
MATERIO
Analyse, Connecte et Développe
Techniques d'imagerie
Microscopie optique - Haute résolution
Profilométrie
Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie électronique à balayage (MEB)
Caractérisation physico-chimique et spectroscopique
Spectrométrie de fluorescence X (XRF)
Spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX, EDS)
Éléments chimiques détectables (en jaune)
Ablation laser couplé avec l'ICP-MS
ICP-OES
Spectroscopie d'émission optique/plasma à couplage inductif
Éléments chimiques détectables (en jaune)
Spectrométrie de masse/plasma à couplage inductif (ICP-MS)
Pourcentages C, H, N et S
Analyse CHNS (Carbone-Hydrogène-Azote-Soufre)
Spectroscopie photoélectronique induite par rayons X (XPS)
.png)
Spectroscopie infrarouge (FTIR)
Images Raman
Microscopie Raman confocale
Excitation - Émission
Spectrofluorimétrie
Spectroscopie NIR-UV-Visible
Détection des électrons non appariés
Résonance paramagnétique électronique (EPR ou ESR)
Mouillabilité de la surface
Goniomètre
Taille des nanoparticules
Diffusion dynamique de la lumière (DLS)
Calorimétrie différentielle à balayage (DSC)
Analyse thermogravimétrique (TGA)
Résonance magnétique nucléaire (RMN)
HPLC-MS
Chromatographie en phase liquide/spectrométrie de masse
GC-MS
Chromatographie en phase gazeuse/spectrométrie de masse
Pyrolyse-GC-MS
Chromatographie d'exclusion stérique (SEC ou GPC)
Caractérisation structurale et microstructurale
Diffraction des rayons X (DRX)
Micro-tomodensitomètre (XRM)
Caractérisation mécanique
Nanoindentation
Analyse thermomécanique dynamique (DMA)